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    英特爾介紹最新 PowerVia 背面供電技術:降低功耗、提升性能

    IT之家 8 月 3 日消息,英特爾今日發文介紹了 PowerVia 背面供電技術,該技術可幫助實現降低功耗、提升效率和性能,滿足不斷增長的算力需求。此外,背面供電技術提高了設計的簡易性。

    IT之家附英特爾 PowerVia 背面供電技術官方介紹:


    (資料圖)

    Intel 20A 將是英特爾首個采用 PowerVia 背面供電技術及 RibbonFET 全環繞柵極晶體管的節點,預計將于 2024 年上半年實現生產準備就緒,應用于未來量產的客戶端 ARL 平臺,目前正在晶圓廠啟動步進(First Stepping)。

    接下來的 Intel 18A 也正在推進內部和外部測試芯片,有望在 2024 年下半年實現生產準備就緒。目前,Arm 已經和英特爾代工服務簽署了涉及多代前沿系統芯片設計的協議,使芯片設計公司能夠利用 Intel 18A 開發低功耗計算系統級芯片(SoC);英特爾也將采用 Intel 18A 為瑞典電信設備商愛立信打造定制化 5G 系統級芯片。

    英特爾開發 PowerVia 背面供電技術的背景

    一直以來,計算機芯片都是像披薩一樣自下而上,層層制造的。芯片制造從最小的元件晶體管開始,然后逐步建立越來越小的線路層,用于連接晶體管和芯片的各個部分,這些線路被稱為互連線。線路層中還包括給芯片供電的電源線。芯片完成后,把它翻轉并封裝起來。封裝提供了與外部的接口,然后就可以把它放進計算機了。

    這種方法遇到了各種問題。隨著晶體管越來越小,密度越來越高,互連線和電源線共存的線路層變成了一個越來越混亂的網絡,成為提升芯片整體性能的障礙。

    英特爾技術開發副總裁 Ben Sell 曾參與開發 PowerVia。他說,這個問題之前不受重視,但“現在產生了巨大的影響”。簡言之,功率和信號會衰減,需要變通的辦法。

    英特爾 PowerVia 背面供電技術的原理

    英特爾和領先的芯片制造商都在努力研究“背面供電”,尋找將電源線移動到芯片“背面”的方法,從而使芯片“正面”只專注于互連。

    在 2023 年 VLSI 研討會上,英特爾展示了制造和測試其背面供電解決方案 PowerVia 的過程,并取得了良好的性能測試結果。

    告別披薩式的制造方式,芯片制造第一次涉及兩個面。下面是 PowerVia 的原理:像以前一樣,首先制造晶體管,然后添加互連層。接下來是一個有趣的環節:翻轉晶圓并進行打磨,露出連接電源線的底層。

    Sell 解釋說,打磨后,“現在只有很少的金屬層,都非常厚”。這里的“厚”指的是微米,留下了“非常直接的路徑給晶體管供電”。

    PowerVia 背面供電技術的價值和優勢

    Sell 證實,這種方法的好處是多方面的,超過了新工藝更高的復雜性帶來的不利影響。例如,電源線可能占據芯片正面空間的 20%。因此,隨著這些電源線的消失,互連層可以“寬松”一些。

    好處不限于制造領域。為了證明這種方法,英特爾團隊制作了稱為 Blue Sky Creek 的測試芯片,該芯片基于英特爾即將推出的 PC 處理器 Meteor Lake 中的能效核 —— 證明 PowerVia 解決了披薩式舊方法造成的兩個問題。現在電源線和互連線可以分離開來并做得更粗,同時改善供電和信號傳輸。

    對于普通計算機用戶來說,這意味著降低能效和提高速度。在降低功耗的情況下更快地完成工作,再次延續摩爾定律的承諾。正如第二篇論文總結的那樣,“使用 PowerVia 設計的英特爾能效核實現了 6% 的頻率增益和超過 90% 的標準單元利用率,調試時間與 Intel 4 一樣,在可接受的范圍內。” Sell 證實,對于僅僅移動電源線來說,這是“巨大”的頻率提升。

    英特爾 PowerVia 背面供電技術的測試和驗證

    目前,芯片測試技術是基于第一層和最底層晶體管的可訪問性。Sell 說,現在晶體管被夾在芯片中間,“許多技術都必須重新開發”。

    “存在很多擔憂和顧慮,這可能是最難弄清楚的事情 —— 如何在這種新的背面供電上進行調試”,Sell 表示,“我們過去幾年開發了這些調試功能并在 Blue Sky Creek 測試芯片進行了驗證,已經取得了巨大進展。”

    為了隔離 PowerVia 的開發,英特爾采用了基于前一代節點 Intel 4,且經過充分驗證的晶體管,并采用了為 Intel 20A 規劃的電源和互連設計。

    英特爾的制造和設計團隊經常制造各種測試芯片,用于測試新的設計和 IP,并鞏固芯片制造工藝,但這類測試芯片通常不會像 Blue Sky Creek 那樣功能齊全。在這種情況下,各個團隊不僅需要驗證他們是否可以用這種方式構建和測試芯片,還需要驗證新配置會不會給最終產品帶來新問題。

    例如散熱問題。Sell 解釋說:“通常情況下,人們也會把芯片側面用于散熱。在把晶體管夾在中間的情況下,‘會出現散熱問題么?’‘是否會出現很多局部升溫的情況?’”答案是不會。

    責任編輯:Rex_03

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